IEC60950-1 A1 Annex EE Wedge Probe

IEC 60950-1 A1 Annex EE Wedge Probe

Product Details 

Specification : 
 

Length                      :   300mm

Width                       :  50mm

Bendable Section    :   30/30/40mm

Material                  :   Stainless steel

Reference               :   UL60950 Fig NAF.2 and NAF.3 

This product is used for testing access to document shredders. The Jointed Accessibility Wedge Probe is a high precision probe made in exact accordance with UL and IEC standards such as UL60950 Figure NAF2 and NAF3 UL 60950 wedge probe for paper shredders .

The wedge probe  is made of solid aluminum to conserve weight yet maintain rigidity. Others maintain that the tip needs to be more rigid, because of the cutting blades. The Shredder Accessibility Probe is intended for testing paper shredders in accordance with Annex NAF of the Standard for Information Technology Equipment, UL60950-1:2006 

Note1:The thickness of the probe varies linearly, with slope changes at the following points along the probe:

Distance from probe tip Probe thickness

Note 2: Tolerances on the probe measurement values are ±0.127 mm.